Tipo: Tutorial
Formato: Web
Autor: Omar Cuellar
Web: www.kueyar.net
Descripción: Tutorial que explica métodos prácticos para prueba básica de transistores Bipolares (BJT), Darlington, MOSFET e IGBT.
Introducción
Este es un tutorial práctico que describe métodos para pruebas básicas de transistores bipolares (BJT), Darlington, MOSFET (Metal-Oxido-Semiconductor Field Effect Transistor) y los IGBT (Insulated-Gate Bipolar Transistor).
La manera más fácil de aprender y
recordar como chequear transistores, es aprendiendo a chequear los
Diodos.
Aunque se fabrican en distintos tamaños, capacidades, características
y formas físicas; el chequeo básico es el mismo. Consiste
en averiguar que no este corto, con fugas o abierto.
El anillo gris claro en uno de sus extremos, señala la terminal K que traduce a nuestro idioma Cátodo. El extremo contrario viene a ser el Ánodo.
* También te puede interesar:
- Probador de MOS-FET
- Probador de Transistores, Diodos y SCR en circuito
- Transistor bipolar de puerta aislada (IGBT)
Resumen del contenido
- Prueba de un diodo
-
Prueba de transistores comunes de Silicio
- Prueba de juntura B - E
- Prueba de la juntura B - C
- Circuito de probador dinámico
- Probador de transistores Darlington
- Chequeo de transistores MOSFET e IGBT.
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